動態轉速綜合測試儀

SZU-01動態轉速綜合測試儀是(shi)一(yi)臺智能化測試儀(yi)(yi)。其中央處(chu)理(li)(li)器為(wei)(wei)(wei)增強型CMOS高級微機處(chu)理(li)(li)器－HD64180結構全部采(cai)用(yong)STD組件。測試儀(yi)(yi)有(you)兩個(ge)輸(shu)入(ru)通(tong)道，一(yi)個(ge)為(wei)(wei)(wei)電壓輸(shu)入(ru)，一(yi)個(ge)為(wei)(wei)(wei)脈沖輸(shu)入(ru)，且自動判(pan)別。測試儀(yi)(yi)基本上(shang)是(shi)作(zuo)為(wei)(wei)(wei)瞬間測速(su)，采(cai)樣(yang)時間可(ke)(ke)在1～100ms間選擇(ze)，共(gong)(gong)采(cai)樣(yang)10240個(ge)點，采(cai)樣(yang)完畢后，可(ke)(ke)根據需要選擇(ze)顯示(shi)(shi)一(yi)幅(fu)總圖(tu)或(huo)某幅(fu)分(fen)圖(tu)（共(gong)(gong)20幅(fu)分(fen)圖(tu)），并(bing)能重復(fu)顯示(shi)(shi)。測試儀(yi)(yi)不(bu)但可(ke)(ke)用(yong)曲(qu)線表(biao)(biao)示(shi)(shi)過(guo)程，還可(ke)(ke)用(yong)一(yi)個(ge)數據串表(biao)(biao)示(shi)(shi)過(guo)程，為(wei)(wei)(wei)了(le)精確地讀(du)取(qu)轉速(su)數值，還增加了(le)移標功(gong)能，并(bing)顯示(shi)(shi)與移標對應的時間，轉速(su)等(deng)值。測試儀(yi)(yi)還可(ke)(ke)用(yong)打(da)印機將有(you)關資料打(da)印保存。